北京中研环科
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Deep Inspectra X1谱仪是由北京中研环科科技有限公司研发设计的新一代专用于实验室级别的X 射线吸收精细结构谱仪系统。
该谱仪采用前沿的Rowland结构设计,可使得实验室研究人员进行 简单、便捷的XAFS测试,实现机时自由!
Deep Inspectra X1谱仪,采用前沿的Rowland结构设计,可使得实验室研究人员进行
简单、便捷的XAFS测试,实现机时自由!
台式X射线吸收谱仪
专业的仪器操作
/数据处理培训
国内资深团队打造
技术/售后有保障
定制化程度高,
配置丰富
产品优势
台式原位XAFS系统
核心部件、原位测试系统可定制;
产品详情
基于实验室XAFS谱仪
1.金属Ni foil的数据对比图
中研环科Deep Inspectra X1实验室XAFS谱仪与同步辐射XAFS数据比较
(实验室采谱时间均为28min,20ev<e0<30ev< span="">区间范围设置为0.5ev步长)
应用案例-新能源电池体系
2. 不同浓度NiO的数据对比图
软包电池高镍体系LiNi0.9Co0.1O2工况测试数据from中研环科原位XAFS表征系统:
实验室XAFS吸收谱仪与同步辐射线站数据对比-1
实验室XAFS吸收谱仪与同步辐射线站数据对比-2
软包电池高温环境(60℃)下充电过程中的原位XANES数据
软包电池实际工况测试场景
软包电池常温环境下充电过程中的原位XANES数据
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