二、主要特点：

1. 原位高低温XRD 反应装置适用于低温环境下粉末样品的物相结构追踪、监测；

2. 该原位装置主要包括主体原位池（内置制冷组件）、液氮制冷系统、温控系统等多个部件及相关配件；

3. 该原位装置可适配各品牌商业X射线衍射仪的光路系统，也可依据客户现有光路进行调整适配；

4. 样品可为粉末样品，直接放置在冷台上；

5. X射线探测角度范围：5<2θ<160°；

6. 该装置采用液氮制冷对样品进行制冷，采用热传导的方式对样品进行加热，保证样品处的温度均匀；

7. 温度控制范围：-180-300°；控制精度：±1℃，采用程序控制；

8. 样品台采用铜加工而成，温度探测器为Pt100，置于冷台边；

装置窗口标配高分子球，能够承受不高于1 个大气压的气压条件和低真空环境；也可选择付费金属铍球，承受不同气压。